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半导体测试用冷热冲击试验箱公司
参考价:¥78000

型号:TSD-150F-3P

更新时间:2024-09-10  |  阅读:1293

详情介绍

半导体测试用冷热冲击试验箱公司

冷热冲击试验箱 用途

冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

冷热冲击试验箱 主要参数:

1.标称内容积:150L

2.内型尺寸:W600*H500*D500mm

3.提篮尺寸:W440*H400*D350mm

4.外型尺寸:W1550*H1600*D1920mm

5.重量:约550㎏

6.温度范围:-60~150

半导体测试用冷热冲击试验箱公司

试验方法:

冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

 

加热及送风循环系统:

1.采用多翼离心式循环风扇,加强轴心+耐高低温之旋转叶片铝合金制成,以达强制对流;

2.高温/环温曝露风机:3∮,400W离心式;低温曝露风机;3∮,400W离心式;

3.镍铬合金电热丝式加热器;

4.加热器控制方式:无触点等周期脉冲调宽,SSR﹙固态继电器﹚
 

 

的制冷系统:

1.工作方式:机械压缩二元复叠制冷方式;

2.制冷压缩机:*全封闭式活塞压缩机法国泰康;

3.蒸发器:    翅片管式换热器;

4.冷凝器:    套管式换热器;

5.节流装置:  热力膨胀、毛细管;

6.蒸发冷凝器:不锈钢钎焊板式换热器;

7.制冷机控制方式:控制系统的PLC﹙可编程逻辑控制器﹚根据试验条件自动调节制冷机的运行工况及压缩机回

气冷却回路,能量调节回路。

8.制冷剂:R404A/R23﹙臭氧耗损指数为0﹚

9.其它:压缩机冷却风扇﹙根据压缩机型号大小选配﹚

 

 

电气控制系统:

1.控制器:彩色触摸屏TFT﹙8226S﹚中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块

2.运行方式:程序方式

﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度

高温恒温区预热温度

低温恒温区预热温度

低温恒温区除霜温度

﹙2﹚指示精度 0.1℃

﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN

﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制

3.设定方式:中文菜单,触摸屏方式输入。

4.程序容量:100组程式,每个程序zui大3步;每个程序可设1000次循环,zui大循环设定9999cycles;

5.设定范围 :高温室预热温度上限:+200℃;低温室预冷温度下限:-50℃;试验室﹙试样区﹚:温度冲击上限

+155℃;温度冲击下限:-50℃

6.显示分辨率:温度:0.1℃ 时间:0.1min;

7.通讯功能:RS-232接口及USB接口,具有本地和远程通讯功能;

8.控制方式:抗积分饱和PID,模糊算法;BTC平衡调温控制方式;

9.附属功能:故障报警及原因、处理提示功能、故障记录、超温保护、上下限温度保护、断电保护、传感器上

下风选择、试验暂停、报警输出、时间信号输出,试验结束输出、温度到达输出、定时启动及自动停止功能、

自诊断功能;


 

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