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型号：TSD-150F-2P
更新时间：2024-09-11 | 阅读：1090
详情介绍
二厢式温度冲击试验箱
应用范围：
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁、光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱，用于耐高温、耐低温、耐湿热循环检测试验。
快速升降温（快速温变试验箱），它一般是一个箱体构成，但特殊的升降温要求（升降温速率要求过高时）时，也会采用两个箱体；它的zui大升降温速率一般大于国标规定的范围，常见的有6摄氏度/分钟至15摄氏度/分钟的升降温速率，但其速率可以像普通试验箱一样，通过仪表控制任意设定其速率。
升降温速率数据
1 、温度冲击范围-70℃、-60℃、-55℃、-40℃～+100、125、150、180℃
2 、温度波动度±0.5℃
3 、温度偏差≤2℃
4 、转换时间≤5秒
5 、温度稳定时间≤5分钟
符合标准：
《GB10592-89》高低温箱技术条件；
《GB10586-93》湿热试验箱技术条件；
《GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程》：低温试验方法；
《GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程》：高温试验方法；
《GB/T2423.4-93电工电子产品基本环境试验规程》：交变湿热试验方法；
《GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程》：恒定湿热试验方法。
二厢式温度冲击试验箱
高温槽温度范围 | +60 ~150℃, | ||||
低温槽温度范围 | A:（-55 ~ -10℃）, B:（-65 ~ -10℃）, D:（-80 ~ -10℃）, | ||||
实验箱冲击温度 | 高温 | 60~150℃ | |||
| 低温 | A:（-10~-35℃） B:（ -10~-55℃） D:（ -10~-65℃） | |||
升温时间 | 60~200℃小于25分 | ||||
降温时间 | A:+20~-55℃小于60分 B:+20~-65℃小于70分 D:+20~-75℃小于80分 | ||||
冲击恢复时间
| 高温（150℃）冲击30分钟 | ||||
| 低温（-35℃or-55℃or-65℃）冲击30分钟 | ||||
| 温度恢复时间：5分钟以内 | ||||
吊拦移动时间 | 15秒已内 | ||||
吊拦尺寸D（㎝） | 35x30 | 45x35 | 55x45 | 65x55 | |
可受试样重量 | 2.5Kg | 5Kg | 6Kg | 8Kg | |
结构尺寸 HxD（CM） | 内 | 35x40x35 | 40x50x40 | 50x60x50 | 60x70x60 |
| 外 | 140x125x132 | 150x135x147 | 160x155x192 | 170x165x217 |
内箱材质 | SUS 304#镜面不锈钢板. . | ||||
外箱材质 | 特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路不锈钢. | ||||
保温层材质 | PU发泡 | ||||
底座材质 | 国标角铁+槽钢. | ||||
控制系统 | 采用*微电脑液晶显示触控式莹幕直接按键型,中英文表示5.7”之广视角,高对比附可调背光功能,具96个试验规范可独力设定、储存记忆控制,并附多组PID控制功能,操作筒单,功能强大,程序编辑容易之大型LCD液晶显示控制器. | ||||
冷冻系统 | 复叠水冷式欧美*全封闭或半密闭式高效压缩机组, | ||||
安全保护装置 | 无熔丝过载探保护,压缩机过热, 过流, 超压, 加热干烧, 箱内超温警报系统. | ||||
标准配置 | 吊拦架（2组） . | ||||
电源 | AC3￠5W380V50HZ | ||||
注：详细规格以相应规格书为准. | |||||
箱体结构:
1、箱体外壁材料：1.2mm拉丝不锈钢板。
2、箱体内壁材料：SUS304#1.2mm不锈钢板。
3、观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃观察窗一个(350X250mm)。观察窗上安装照明灯。
4、保温材料：采用聚氨脂泡沫塑料经高温高压发泡将外壳与低温室连接成一个整体。
5、样品室移动方式：样品静置。
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