冷热冲击试验箱电气性能参数测量设备

 主要用于航空、航天、信息、电子等领域，确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验，并或同时对试件通电进行电气性能参数的测量。

冷热冲击试验箱技术参数：

1、温度范围：

高温区：+60 ℃ ～ 200 ℃

低温区：A/-10 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-60 ℃ , C/-10 ℃～-70 ℃

工作室：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

2、温度波动度: ±0.5℃

3、温度均匀度：±3℃

4、温度恢复时间:3~5min

5、高温槽升温速度:平均约5℃/min

6、低温槽降温速度:平均约1.5℃/min

7、高低温暴露时间:30min以上

8、高低温转换时间：≤15秒

型号：TSD-150F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）600×500×500

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1640×1950×1680

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/25, B/32, C/42

冷热冲击试验箱电气性能参数测量设备

 产品具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB10592-89技术条件，适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验 试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。

冷热冲击试验箱型号规格：

1、型号：TSD-50F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）350×350×400

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1390×1800×1480

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/20, B/21, C/22

2、型号：TSD-80F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）500×400×400

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1540×1850×1480

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/21, B/22, C/23

3、型号：TSD-100F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）500×400×500

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1540×1950×15800

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/22, B/23, C/25

4、型号：TSD-150F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）600×500×500

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1640×1950×1680

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/25, B/32, C/42

5、型号：TSD-252F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）700×600×600

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1740×2050×1800

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/32, B/38, C/48

6、型号：TSD-408F-3P

工作室尺寸：（宽×高×深mm）800×600×850

外箱尺寸：（宽×高×深mm）1840×2180×2100

温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃

功率（KW）：A/32, B/38, C/48

我公司可根据客户的要求制造不同规格的产品。

 高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的