深圳ic芯片冷热冲击试验箱

用途：

冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。

深圳ic芯片冷热冲击试验箱

依据标准：

GB5170、2、3、5、6 《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温、高温设备》

GB2423.1-2008(IEC68-2-1)《试验A：低温试验方法》

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)《试验B：高温试验方法》

GB/T2423.22-2008 《试验N: 温度变化试验方法》

GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)《高温试验方法》

GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)《低温试验方法》

GJB/150.5-2009 《温度冲击试验》

GJB360.7-87    《温度冲击试验》

GJB367.2-87 405《温度冲击试验》

SJ/T10187-91Y73《系列温度变化试验箱-一箱式》

SJ/T10186-91Y73《系列温度变化试验箱-二箱式》

GB/T 2424.13-2002《试验方法温度变化试验导则

工作原理：

高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。

不同温段冲击:由多级蒸发器结构相应切断，控制蒸发面积与制冷量膨胀阀匹配，使用制冷系统输出合理减少加热器中和的输出量，达到恒定节能;另有独立的换气阀门，在排气(常温恢复)时动作引入环境空气。

进气口在环境温度曝露时吸进外面的空气。

排气口从机械室和试验区排出热气定时预定功能。

预先设定试验开始时间，试验箱自动开始起动并准备开始试验。

曝露时间缩短功能。

试验区的下风温度达到曝露温度后转换到下一个曝露的功能。

前处理/后处理功能。

在循环试验开始前或结束后，试样被曝露在高温环境中(热处理)维持一定时间。

干燥运转功能。

试验结件下运转一定的时间。